Matias V., Coulter Y., Sheehan C., Yung C., Glyantsev V., Huh J., Turner P., Dawley J., Maiorov B.M.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, fabrication, template layers, planarization, solution techniques, IBAD process, RCE-CDR process, critical caracteristics, n-value, critical current, critical current density, angular dependence, thickness dependence, magnetic field dependence, homogeneity, growth rate, presentation
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.